离子迁移测试系统的发展

  根据现在全球市场来说，离子迁移测试系统的发展需要符合现如今省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价格、高信赖等要求来发展，也正是在这样的情况下，离子迁移测试系统的发展也需要获得重新的评估。

  离子迁移测试系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION),并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验(ION MIGRATION TESTING)。

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